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當前位置:首頁   >  產品中心  >  植物表型儀器  >  水稻表型檢測系統  >  TPDS-X-1 plus稻谷穗形粒數考種儀

稻谷穗形粒數考種儀

簡要描述:為了提升稻谷考種效率,可使用稻谷穗形粒數考種儀來進行自動化地測量、分析,這樣獲取、存儲和處理數據也更加方便。該儀器采用*的圖像處理技術,帶有根據深度學習算法而綜合設計的軟件,主要用于在室內對稻谷穗粒數、一/二次枝梗數量和長度測量,可廣泛應用于水稻形態學的研究、水稻良種選育,為各農科院、高校、育種公司、種子站等提供良好的檢測工具。

  • 產品型號:TPDS-X-1 plus
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-12-05
  • 訪  問  量:3663

詳細介紹

一、產品介紹

水稻的產量由單位面積穗數、穗粒數和千粒重構成,每穗的穗粒數由枝梗的數量和長度等穗部結構性狀決定。水稻枝梗分為一次枝梗、二次枝梗和三次枝梗,各枝梗測量起來難度大,并且各枝梗粒數多且難數,工作效率低下。因此,開發一款能夠提高測量水稻穗粒數和枝梗長度效率的產品至關重要,有助于科研工作效率的提升。

稻谷穗形粒數考種儀也叫稻谷穗形粒數測量系統,采用圖像處理技術,根據深度學習算法綜合設計的一款軟件。該產品可以測量各枝梗穗粒數、一次枝梗長度和對應穗粒數、二次枝梗長度和對應穗粒數、枝梗著粒密度、穗著粒密度以及平均值、種子粒數、千粒重。稻谷粒數考種儀廣泛適用于各農科院、高校、育種公司、種子站的水稻研究。


二、功能特點

1、多參數批量分析:稻谷穗形粒數儀一鍵化自動分析各枝梗穗粒數、一次枝梗長度和對應穗粒數、二次枝梗長度和對應穗粒數、枝梗著粒密度、穗著粒密度以及平均值等,共測量23個參數指標。

2、枝梗可整體或者分步分析:一次枝梗和二次枝梗可單獨分析,也可同時分析。

3、LED 背光光源裝置:能夠去除種子陰影和雜質,背光清晰

4、自動換成千粒重:稻谷穗形粒數考種儀可通過識別的種子粒數,輸入重量,可自動換算出千粒重。

5、數據采集方式:可多點快速取樣,數據可批量分析并獲取平均值。

6、比例尺自動矯正:任意手機可拍照,且拍攝成像視角可以被自動矯正,避免了拍照變形誤差。

7、智能修正:動觸摸屏幕進行修正,使結果更精準,可達100%。

8、數據查看:數據查看多樣化,拍照分析后即可查看結果,也可在歷史記錄中查看數據報表。

9、數據導出和共享:稻谷穗形粒數儀支持數據修正、查詢、編輯和導出,數據可導出Excel格式,并可分享至微信、QQ或者釘釘,便于多應用方式查看數據。

10、動態加密:可通過驗證碼進行加密,一個賬號可在多個手機上使用,但不能同時使用。


三、硬件配置

水稻整穗考種背板裝置:黑色磨砂材質

背光板:發光超薄背板

數據采集器:超大彩色屏手機


四、技術參數

適用范圍:水稻室內考種時期,對水稻穗部形態和千粒重測量

外形尺寸:水稻整穗考種外形尺寸 460*360*16mm

A4背光板尺寸:33.5*23.3*0.4(cm)

測量誤差:穗長:≤±2%

總穗粒數:≤±2%

各枝梗長度:≤±3mm

千粒重誤差±2‰,修正后可達100%

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