專業農業儀器生產商
集自主研發、制造、銷售和服務為一體19032001373
植物冠層分析系統/儀是測量作物田間長勢診斷的有力工具，主要用于作物葉片及冠層光譜的測量，可現場診斷作物的營養狀況，可測量葉面積指數、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數、葉面積密度的方位分布、冠層內外的光合有效輻射（PAR）等。廣泛應用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析以及農林業科研工作。
托普云農科技生產有多種冠層分析儀，可助力科研院所、高等院校等進行植物學研究。冠層分析儀TOP-1200選用敏感波段的光源照射作物冠層，感光部件同步獲取冠層反射光譜信息，耦合作物生長監測診斷模型，能獲取作物冠層信息、養分信息、土壤養分信息、土壤養分信息、環境參數、病蟲害程度等。
TP-3051D光合作用檢測儀主要應用于農林業、園藝、微生物、昆蟲等專業行業及科學試驗中。可以測定CO2濃度、葉片溫度、光合有效輻射、葉室溫濕度，通過科學計算可得出葉片光合速率 、葉片蒸騰速率、細胞間CO2濃度、氣孔導度、水分利用率等光合作用指標。
GXY-B植物根系分析系統專用于洗根后的植物根系分析，系統軟件可以測量分析植物根系長度、直徑、表面積、體積、根尖數、分叉數、關節點、連接點數、交疊數、根瘤、盒維數等，也可測量針葉面積、體積、棉纖維粗細、長度等，適用于植物根系形態學、構造研究、植物科學研究等，解決根系結構和幾何參數難以獲取的問題，提升從業人員工作效率。
歡迎來到
聯系人：陳麗婷
地址：杭州市拱墅區祥園路中國（杭州）智慧信息產業園3號樓11-13樓
郵箱：yangli@top17.net
傳真：86-0571-86059660
